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ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题

ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理,腾博官网诚信本专业工程师教你一招,自己也可以进行故障排除。故障现象:进行PHA日常调节时,PC探测器微分曲线谱峰太低,严重变形,无法计算分辨率、“错误内容”提示“因为脉高微分曲线的谱峰太低,所以不能进行PHA调节”,“维护信息”显示:“可能使用了错误的PHA调节样品,或者PHA调节的条件设置错误”。

ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪中X光管故障解决问题

ZSX Primus Ⅱ 波长色散型X射线荧光光谱仪在检测过程中由于不正确的使用或者没有定期的进行维护保养,容易造成机器的故障,下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波长色散型X射线荧光光谱仪在分析中出现X光管故障的现象、产生的原因与最终解决的二种方法。第一故障现象:正常使用过程中,X光管忽然关闭。“错误内容”提示“X射线发生器发生异常”,“维护信息”显示:“探测到X射线发生器有异常情况”。原因分析:X射线发生器本

ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪解决初始化无法进行两种方法

进口ZSX Primus Ⅱ色散型X射线荧光光谱仪是日本理学推出的波长荧光光谱仪,性能先进,操作方便,已 广泛应用于地质、钢铁、冶炼、医药等多领域。但在实际使用过程中有时会出现这样那样的故障,影响正 常测试工作的及时性和测试结果的准确性,文章针对ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪的初始化无法进行的两个常见的故障现象进行先容,先容故障出现的问题、原因分析及解决方法,希翼对大家有所帮助。初始化无法进行故障一故障现象:安装新光管后主机与计算机不能连接,也没有错误信息提示。原因分析:错误现象表明计算机系统探

Supermini200 波长色散型台式X射线荧光光谱仪检测范围

理学多年的积累研制的Supermini200 小型波长色散型仪器, 由高性能的硬件和最新App的完美结合,使得台式机具有高精度、高稳定的机能。Supermini200 波长色散型台式X射线荧光光谱仪检测性能非常的高,同一个画面上的分析、测量、结果确认操作简单。Supermini200还配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管,能够进行高灵敏度的分析。Supermini200波长色散型X射线荧光光谱仪能快速解决各行业元素分析检测问题,大大提高工作效率。下面简单先容其中部分分析应用:部分应用1、含有稀土类重元素等氧化物的定性分

波长色散型XRF-ZSX Primus系列X射线荧光光谱仪应用

随着用户的需要也变得先进和多样化,理学集团长年以来的技术研发、工艺技巧、分析方法之精髓汇集于一体,不断满足用户不断改变的需求,理学集团研发了先进的XRF-ZSX Primus系列在各大行业中被广泛的应用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波长色散型X射线荧光光谱仪在技术上更加的先进,下面为大家简单先容波长色散型X射线荧光光谱仪在部分领域中的应用。部分应用1、铁矿石分析 ASTM C114粉状硅酸盐水泥分析2、熔片法岩石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金钢、不锈钢中Si,Mn,P,S,Ni,C

波长色散X射线荧光光谱仪的新进展

X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法,是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一。X射线荧光光谱仪(XRF)是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线),从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有波长色散型和能量色散型两种,适用于测定铍 (Be)以上的化学元素的含量。它的优点是不破坏样品,分析速度快,分析精度高,样品制备简单。X射线荧光光谱仪还可以用于微区分析及确定分层和涂层的厚度和成分。X-射线与物质的交换XRF荧光光谱仪是可以

硫化矿样品的X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作为国家战略矿石之一,对其快速准确分析在开发利用方面具有重要意义。目前,矿物、矿石样品传统分析周期长,操作繁琐,不适合日常快速分析的要求。开发了X射线荧光光谱法快速测定硫化铜矿中主量元素的分析方法,实验采用玻璃熔融法制备硫化铜

波长色散X射线荧光光谱仪

来源:分析测试百科网我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看,依然是建立在布拉格定律基础之上,但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹,可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中,从20世纪80年代起,一些机械部件为电子线路所取代,电子线路又进而被App所取代。如一些仪器制造商分别用无齿轮莫尔条纹测角仪和激光定位光学传感器驱动测角仪,取代传统θ/2θ齿轮机械运动的测角仪,2θ扫描精度也由齿轮机械运动的±0.001&d

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