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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪 ZSX Primus III+

产品分类: 波长X射线荧光光谱仪(理学)
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      日本理学波长色散X射线荧光光谱仪,快速定量元素分析的高性能WDXRF!

      上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

      ZSX Primus III+

      理学ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量测定,从氧(O)到铀(U)的最低标准的广泛样品类型。

      高度可靠性的上照射式光学系统

      ZSX Primus III+具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。

      高精度样品定位

      高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个独特的光学配置实行高精度分析,用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

      SQX 基本参数App与EZ扫描App

      用户使用EZ扫描App可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数App,快速提供最准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子(轻、超轻元素)、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。

      上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

      Features

      从O到U的元素分析

      上照射式光学最小化污染

      小占地面积节省实验室空间

      高精度样品定位

      特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误

      统计过程控制(SPC)的App工具

      优化抽空和真空泄露率改善吞吐量


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